Tạp chí Khoa học và Công nghệ trong lĩnh vực An toàn thông tin

(Journal of Science and Technology on Information security) ISSN 2615-9570

Bài viết

Automated Test Data Generation for Embedded System Models Using Combinatorial Testing

DOI: 10.54654/isj.v3i17.890
Từ khóaHệ thống nhúngphát triển dựa trên mô hìnhsinh ca kiểm thửđộ phủ MC/DCMATLAB/Simulinkkiểm thử dựa trên tổ hợp

Tóm tắt

Tóm tắt— Hệ thống nhúng đã và đang đóng vai trò quan trọng trong xã hội hiện đại. Các hệ thống này xuất hiện ở mọi mặt của đời sống từ xe ô tô tự hành, hàng không tới các thiết bị gia đình. Vì vậy, các hệ thống nhúng phải đảm bảo các yêu cầu cao về chất lượng, an toàn. Việc đảm bảo chất lượng cho các hệ thống này đã thu hút cả các nhà nghiên cứu và những người làm công nghiệp. Trong phát triển các hệ thống nhúng, việc kiểm thử thường yêu cầu độ phủ cao với các độ đo khác nhau theo các chuẩn quốc tế như Phủ điểm quyết định (Decision Coverage), Phủ điều kiện (Condition Coverage), Phủ Điều kiện/Điểm quyết định sửa đổi (Modified Condition/Decision Coverage) theo chuẩn ISO 26262. Tuy nhiên, rất khó để sinh dữ liệu kiểm thử với độ phủ cao do các hệ thống nhúng thường phức tạp, có nhiều đầu vào, và các tín hiệu đầu vào có thể là liên tục, phức tạp.
Để có các ca kiểm thử tốt với độ phủ cao, bài báo này đề xuất một phương pháp sinh tự động các dữ liệu kiểm thử bằng cách áp dụng phương pháp kiểm thử dựa trên tổ hợp. Các yêu cầu đầu vào của mô hình hệ thống nhúng sẽ được biến đổi để thành đầu vào của phương pháp kiểm thử dựa trên tổ hợp, từ đó dữ liệu kiểm thử có khả năng phủ hết các cặp giá trị xảy ra của 2 đầu vào sẽ được tạo ra. Kết quả thực nghiệm cho thấy phương pháp đề xuất cho độ phủ tốt hơn so với phương pháp dựa trên kiểm thử ngẫu nhiên.

Lượt tải theo tháng

0102004/2305/2306/2307/2308/2309/2310/2311/2312/2301/2402/2403/2404/2405/2406/2407/2408/2409/2410/2411/2412/2402/2503/2504/2505/2507/2510/2511/2512/2501/2602/2603/2604/26

Di chuột vào cột để xem số lượt tải.

Cách trích dẫn

Do Thi Bich Ngoc (2023). Automated Test Data Generation for Embedded System Models Using Combinatorial Testing. Tạp chí Khoa học và Công nghệ trong lĩnh vực An toàn thông tin, 3(17), 78-84. https://doi.org/10.54654/isj.v3i17.890

Tài liệu tham khảo

  1. 1.] Combinatorial Testing: https://csrc.nist.gov/projects/automated-combinatorial-testing-for-software [Online; accessed 22-Nov-2022].
  2. 2.Dũng, N. Q., Hoàng, L. V., & Trung, N. H. (2020). Phát hiện mã độc IoT botnet dựa trên đồ thị PSI với mô hình Skip-gram. Journal of Science and Technology on Information Security, 7(1), 29-36. https://doi.org/10.54654/isj.v7i1.53.
  3. 3.Jacek Czerwonka. Pairwise Testing in the Real World. Practical Extensions to Test Case Generators. Microsoft Corporation, Software Testing Technical Articles. February 2008.
  4. 4.Godboley, S., Sridhar, A., Kharpuse, B., Mohapatra, D.P. and Majhi, B., Generation of branch coverage test data for simulink/stateflow models using crest tool. International Journal of Advanced Computer Research, 3(4), p.222, 2013.
  5. 5.Holling, D., Pretschner, A. and Gemmar, M. 8cage: lightweight fault-based test generation for simulink. In Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering (pp. 859-862), September 2014, ACM Press.
  6. 6.Kuhn, D. R., Raghu N.K., and Lei, Y., Introduction to combinatorial testing, CRC press, 2013.
  7. 7.Matinnejad, R., Nejati, S., Briand, L.C. and Bruckmann, T. Automated test suite generation for time-continuous simulink models. In Proceedings of the 38th international conference on software engineering (pp. 595-606), May 2016, ACM Press.
  8. 8.Matinnejad, R., Nejati, S., Briand, L. C., Bruckmann, T. SimCoTest : A test suite generation tool for Simulink/Stateflow controllers. In Proceedings of the 38th International Conference on Software Engineering Companion (pp. 585-588), May 2016, ACM Press.
  9. 9.Ngoc, D.T.B. Sinh Dữ Liệu Kiểm Thử Cho Mô Hình Hệ Thống Nhúng Sử Dụng Kỹ Thuật Kiểm Thử Theo Cặp, Journal of Science and Technology on Information and Communications. Vol 1 No 2 (2020).
  10. 10.Peranandam, P., Raviram, S., Satpathy, M., Yeolekar, A., Gadkari, A. and Ramesh, S. An integrated test generation tool for enhanced coverage of Simulink/Stateflow models. In Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe (pp. 308-311). EDA Consortium, March 2012.
  11. 11.Mats G, and Jeff, O. Input parameter modeling for combination strategies. In Proceedings of the 25th conference on IASTED International MultiConference: Software Engineering, pp. 255–260, ACM Press 2017.
  12. 12.Simulink Design Verifier: https://www.mathworks.com/products/sldesignverifier.html [Online; accessed 28-July-2022].
  13. 13.Takashi, T., Daisuke, I., Toru, M., Shigeki, T., and Toshiaki, A. Template- Based Monte-Carlo Test Generation for Simulink Models. In IEICE TRANS. FUNDAMENTALS, VOL.E103–A, NO.2 FEBRUARY 2020. pp, 451-461.
  14. 14.Tran, H. T., Hoang, P. V., Do, T. N., & Nguyen, D. H. (2020). Hardware Trojan Detection Technique Using Frequency Characteristic Analysis of Path Delay in Application Specific Integrated Circuits. Journal of Science and Technology on Information Security, 10(2), 36-43. https://doi.org/10.54654/isj.v10i2.64.
  15. 15.Tzoref-Brill, R. Chapter Two - Advances in Combinatorial Testing. In series Advances in Computers, Volume 112, pp. 79-134, Elsevier 2019.
Automated Test Data Generation for Embedded System Models Using Combinatorial Testing | Tạp chí Khoa học và Công nghệ trong lĩnh vực An toàn thông tin